[文章導(dǎo)讀] 納米壓痕儀主要用于測(cè)量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測(cè)試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞、存儲(chǔ)模量及損耗模量等特性。

納米壓痕儀（點(diǎn)擊了解詳情）主要用于測(cè)量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測(cè)試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞、存儲(chǔ)模量及損耗模量等特性。微納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)可適用于有機(jī)或無機(jī)、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測(cè)分析，包括PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩繪釉漆，光學(xué)薄膜，微電子鍍膜，保護(hù)性薄膜，裝飾性薄膜等等。微納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)基體可以為軟質(zhì)或硬質(zhì)材料，包括金屬、合金、半導(dǎo)體、玻璃、礦物和有機(jī)材料等。

動(dòng)態(tài)納米壓痕，提供了彈/塑性和粘彈性隨著壓入深度、頻率和時(shí)間的變化關(guān)系，全面表征各種材料的普適性方法，從較軟的聚合物到硬質(zhì)鍍層都能適用；XPM快速力學(xué)性能成像，不論是測(cè)量分辨率和精度，還是測(cè)量速度，XPM都是微納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)的業(yè)界新標(biāo)桿；SPM+實(shí)現(xiàn)納米力學(xué)測(cè)試前后的準(zhǔn)確原位成像，使用同一根探針實(shí)現(xiàn)樣品表面形貌成像和納米壓痕測(cè)試；強(qiáng)大的控制和分析系統(tǒng)。

本文章出自北京歐倍爾，轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。